ケツト科学研究所 電磁膜厚計 LE-373

商品情報
《仕様》
●測定方式：電磁誘導式
●測定対象：磁性体上の非磁性被膜
●測定範囲：0〜2500μmまたは99.0mils
●測定精度：50μm未満/±1μm、50μm以上1000μm未満/±2%、1000μm以上/±3%
●分解能：100μm未満：0.1μm、100μm以上：1μm
●適合規格：JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401/ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840/BS 3900-C5/ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376
●検量線メモリ：アプリケーションメモリ/100本の検量線を記憶
●プローブ：一点接触定圧式(LEP-J)
●電源：電池1.5V(単3アルカリ)×4
●付加機能：各種機能16種
●寸法・質量：75(W)×145(D)×31(H)mm、0.34Kg
《特長》
●磁性体上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)・塗装などの被膜厚を測定する膜厚計です。コンピュータにデータを転送することができ、検量線メモリ、測定データメモリ、上下限設定、統計処理など、16種の機能を装備しています。
●付属品：標準板セット、標準板ケース、鉄素地(FE-373)、プローブアダプタ、キャリングケース、電池1.5V(単3アルカリ)×4
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